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BX53M - BXFM Brochure

BX53M - BXFM Brochure
28Pagine

Estratti del catalogo

Sistema per microscopia BX53M/BXFM Semplificazione della microscopia avanzata

Progettata per le applicazioni industriali e delle scienze dei materiali Progettata per agevolare la modularità, la Serie BX3M offre la giusta versatilità in numerosi ambiti delle scienze dei materiali e delle applicazioni industriali. Grazie alla migliore integrazione con il software PRECiV™, il BX3M offre un flusso di lavoro continuo per operatori di microscopia standard e imaging digitale, dall'osservazione alla creazione di report.

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Semplificazione della microscopia avanzata Facile uso Un'impostazione guidata e semplificata delle configurazioni del microscopio permette una regolazione e una riproduzione facilitate delle configurazioni del sistema. Funzionale Progettato per la microscopia industriale convenzionale, il BX3M ha espanso le funzionalità per essere utilizzato in un più ampio campo di applicazioni e tecniche di ispezioni. Ottiche di precisione Abbiamo una lunga storia nell'ambito della produzione di ottiche in grado di fornire immagini di alta qualità attraverso l'oculare o il monitor. Completamente...

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Intuitivi comandi del microscopio: Confortevoli e di facile uso Quando si realizzano delle ispezioni spesso richiede tempo l'esecuzione delle operazioni di regolazione delle configurazioni del microscopio, di acquisizione delle immagini e di misura per soddisfare le esigenze di produzione dei risultati. Potrebbe risultare investire tempo e risorse finanziarie per la formazione sull'utilizzo di microscopi professionali. Altre volte lavorano con una conoscenza limitata sul pieno potenziale di utilizzo del microscopio. Il microscopio BX3M semplifica le operazioni complesse dei microscopi...

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Comandi intuitivi del microscopio Attraverso delle ottimali configurazioni di stop di apertura e di stop di campo è possibile ottenere un eccellente contrasto delle immagini e un pieno utilizzo dell'apertura numerica dell'obiettivo. La legenda guida l'utente nell'impostare la corretta configurazione in base al metodo di osservazione e all'obiettivo in uso. Posizione non corretta Posizione corretta Facile ripristino delle configurazioni del microscopio: Hardware codificato Le funzioni codificate integrano le configurazioni hardware della serie MX3 con il software di analisi delle immagini...

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Funzionalità per diversi tipi di operazioni di ispezione e di analisi La serie BX53M applica i convenzionali metodi di contrasto della microscopia come il campo chiaro, il campo scuro, la luce polarizzata e il contrasto interferenziale Con lo sviluppo dei nuovi materiali, numerose problematiche, associate al rilevamento dei difetti utilizzando i normali metodi di contrasto, possono essere risolte mediante le tecniche di microscopia avanzate in modo da garantire ispezioni più precise e affidabili. Con il software di analisi delle immagini PRECiV, le nuove tecniche e opzioni di illuminazione...

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MIA istantanea: Imaging panoramica di facile applicazione EFI: Creazione di immagini completamente a fuoco Adesso è possibile unire immagini velocemente e facilmente muovendo solamente le manopole XY sul tavolino manuale; non è necessario un tavolino motorizzato. Il software PRECiV™ utilizza la funzione di riconoscimento dello schema per generare un'immagine panoramica fornendo agli utenti un campo visivo più ampio rispetto a una singola immagine. La funzione Extended Focus Imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire immagini di campioni con altezze che superano la profondità di...

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Misura avanzata Misure di routine e di base Il software PRECiV offre diverse funzioni di misura in modo che l'utente possa facilmente ottenere dati utili dalle immagini. A fini di controllo qualità e ispezioni sono spesso necessarie le funzioni di misura sulle immagini. Tutti i tipi di licenze PRECiV includono le funzioni di misura interattive come: distanze, angoli, rettangoli, cerchi, ellissi e poligoni. Tutti i risultati di misura vengono salvati con i file di immagine per successive operazioni di documentazione. Il rilevamento degli oggetti e la misura della distribuzione delle...

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Avanzata capacità di gestione dei campioni Vedi altri tipi e dimensioni di campioni Il tavolino 150 × 100 mm assicura una maggiore distanza nella direzione X rispetto ai precedenti modelli. Grazie a questa caratteristica, e al fatto di avere una struttura piana nella parte superiore, possono essere facilmente posizionati su tavolino diversi campioni o campioni di grandi dimensioni. Il piattello del tavolino integra dei fori filettati per fissare un supporto per campioni. Un tavolino di maggiori dimensioni permette agli utenti di ispezionare più campioni con un microscopio con un risparmio...

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Controllo dell'aberrazione del fronte d'onda Quando si usa un microscopio per la ricerca avanzata o l'integrazione dei sistemi, le performance delle ottiche devono essere standardizzate per tutti gli obiettivi. Gli obiettivi UIS2 oltrepassano i convenzionali standard delle performance relative all'apertura numerica (NA) e alla distanza di lavoro (WD), fornendo un controllo dell'aberrazione del fronte d'onda in modo da minimizzare le aberrazioni e la riduzione di risoluzione. Illuminazione LED Il BX3M utilizza un generatore di luce al LED bianca e a alta intensità per luce trasmessa e...

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Applicazioni La microscopia a luce riflessa viene impiegata nell'ambito di diversi settori e applicazioni. Questi sono solamente alcuni esempi dimostrativi su cosa può essere realizzato con diversi metodi di osservazione. Campo scuro/MIX con Campo chiaro Schema IC su un wafer semiconduttore Fluorescenza/MIX con Campo scuro Luce trasmessa/MIX con Campo chiaro Residuo di fotoresist su un wafer semiconduttore Filtro a colori LCD Campo scuro Il campo scuro viene usato per osservare una luce diffusa o diffratta da un campione. Visto che solamente le superfici che non sono piane riflettono questa...

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